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芯片半导体
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  • 俄歇电子能谱仪 (AES)

    2023-07-11 一、项目介绍:俄歇电子能谱仪利用荷能电子束激发样品表面原子产生的俄歇电子,来对样品表面元素进行鉴别与定量分析。同 时,在检测原子序数较小的元素时,该仪器具有高灵敏度,且有极佳的空间分辨率,常用于样品表面的微区分 析。借助于离子束的剥蚀,俄歇电子能谱仪还能实现量化的深度剖析,并广泛应用于薄膜各
  • 透射电子显微镜TEM

    2023-07-11 1、项目介绍:TEM透射电镜的分辨率比光学显微镜高得很多,电子束穿过超薄样品后投射在TEM成像探测器上。包括TEM(投影)和STEM(电子束扫描)两种成像模式,可分析物质的精细结构、原子排列、化学特性、晶体方向等。2、应用优势:200kV电子源,分辨率0.12nm,放大倍率150X-230MX,Dual-XEDX探头分辨率高,可实现高分辨STE
  • 扫描式电子显微镜 (SEM)

    2023-07-11 扫描式电子显微镜,又扫描电镜(Scanning Electron Microscope, SEM)主要是利用微小聚焦的电子束(Electron Beam)进行样品表面扫描。 此电子束(Electron Beam)与样品间的交互作用会激发出各种信号,如: 二次电子、背向散射电子及特性X光等,SEM主要就是收集二次电子的信号来成像。求实检测能为你做什么?SEM景深大、分
  • 双束聚焦离子束(Dual beam FIB)

    2023-07-11 一、项目介绍:FIB主要通过创新的elstar电子枪与高电流UC +技术相结合,实现极高分辨率成像 最高的材料与卓越的Phoenix离子枪形成对比,即使在最具挑战性的样品上,也能实现最快,最简单,最精确的高质量样品制备和3D表征。具有以下主要特点:最快,最简单的HR-TEM和APT样品制备极高分辨率成像,具有最精
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